直讀光譜儀是如何進(jìn)行數(shù)據(jù)處理的呢
直讀光譜儀是利用原子發(fā)射光譜分析法進(jìn)行成分分析的。是一種通過測量物質(zhì)發(fā)射光譜的波長和強(qiáng)度來進(jìn)行定性和定量分析的方法。分析時，將被分析的試樣引入光源中，加入外界能量，使試樣蒸發(fā)成原子狀態(tài)，并使氣態(tài)原子的外層電子激發(fā)至高能態(tài)并產(chǎn)生電子躍遷，激發(fā)態(tài)的原子躍遷至基態(tài)或低能態(tài)的過程中產(chǎn)生輻射。不同的原子產(chǎn)生不同波長的電磁輻射，利用棱鏡或光柵對產(chǎn)生的輻射進(jìn)行分光便可獲得某一元素的光譜譜線。
原子發(fā)射光譜分析技術(shù)就是通過識別不同元素的特征光譜的波長，鑒別出某一元素的存在并依據(jù)特征光譜強(qiáng)度來鑒別某一元素的含量。主要由光源、光學(xué)系統(tǒng)和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)三部分組成。光源的主要作用是提供被測試樣蒸發(fā)和激發(fā)躍遷所需要的能量，使之產(chǎn)生光譜。光學(xué)系統(tǒng)主要由照明系統(tǒng)、準(zhǔn)光系統(tǒng)、色散系統(tǒng)和投影系統(tǒng)組成。數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)主要用于采集數(shù)據(jù)的處理。
直讀光譜儀是如何進(jìn)行數(shù)據(jù)處理的呢？
1、誤差來源有哪些？
（1)系統(tǒng)誤差也叫可測誤差，一般包括儀器的本身波動；樣品的給定值和實(shí)際值存在一定的偏差（標(biāo)準(zhǔn)樣品的元素定值方法可能和實(shí)際檢測方法不一致，這樣檢測結(jié)果會有方法上的差異；同一種方法的檢測結(jié)果也存在一定的波動）；待測樣品和系列標(biāo)樣之間存在成分的差異，可能導(dǎo)致在蒸發(fā)、解離過程中的誤差，如背景強(qiáng)度的差別和基體蒸發(fā)的差異等。
（2)偶然誤差是一種無規(guī)律性的誤差，如試樣不均勻；檢測時周圍的溫濕度、電源電壓等的變化；樣品本身的成分差異等。
2、儀器測定結(jié)果偏差較大，分析結(jié)果不穩(wěn)定該如何處理？
（1）檢查分析方法是否正確，如分析模型、分析程序等；
（2）儀器本身穩(wěn)定：檢查儀器光室溫度、內(nèi)部環(huán)境溫度、氬氣壓力是否滿足分析要求；
（3）激發(fā)控樣：若控樣分析結(jié)果良好，說明儀器性能不存在問題，待測樣品可能存在偏析、縮孔、裂紋等缺陷；
（4）控樣結(jié)果也存在較大問題時，應(yīng)當(dāng)標(biāo)準(zhǔn)化。
3、使用過程中發(fā)現(xiàn)C、P、S數(shù)據(jù)變化，而其他元素正常該怎么處理？
C、P、S的特征譜線在真空紫外區(qū)，只有在真空或惰性氣體環(huán)境下才能準(zhǔn)確測定。C、P、S的測量性能變差，往往與光傳輸效率下降有關(guān)。常規(guī)的處理方法如下：充氬儀器：延長光室吹掃時間，清理紫外光室透鏡，清理火花臺，校正光譜，標(biāo)準(zhǔn)化；真空儀器：觀察真空是否泄漏，清理火花臺，清理光室透鏡，重新描跡，標(biāo)準(zhǔn)化。
